在光学薄膜测量领域，反射膜厚仪作为关键检测设备，其测量精度直接影响产品质量。然而在实际操作中，多种因素可能导致测量结果出现偏差。景颐光电技术团队结合多年实践经验，为您梳理常见误差来源及解决方案。

　　景颐光电建议，定期进行仪器性能验证是保证测量精度的关键。通过建立标准操作流程(SOP)，可显著降低人为操作误差。

　　测量误差的80%来源于样品准备和环境控制，而非仪器本身。景颐光电技术总监指出，建立完善的测量规范比追求更高精度仪器更有效。

　　通过系统分析误差来源并采取针对性措施，可显著提升反射膜厚仪的测量可靠性。景颐光电将持续为行业提供专业的技术支持和服务。

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